Benvinguts al Repositori Digital de la UPF

Test collection reliability: a study of bias and robustness to statistical assumptions via stochastic simulation

Test collection reliability: a study of bias and robustness to statistical assumptions via stochastic simulation

Thumbnail
Tipus de document: Article
Versió del document: Versió acceptada
Data de publicació: 2016

Aquest element apareix en la col·lecció o col·leccions següent(s)