Examinant per Autoria "Madrid Padilla, Oscar Hernan"
Mostrant 1 - 1 de 1
Resultats per pàgina
Opcions d'ordenació
Ítem Accés Obert Bayesian variance change point detection with credible sets(Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), 2025) Cappello, Lorenzo; Madrid Padilla, Oscar Hernan